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產(chǎn)品中心專用儀器儀表DP-2003頻率計/頻率計/數(shù)字頻率計
頻率計/頻率計/數(shù)字頻率計
產(chǎn)品簡介
product
產(chǎn)品分類頻率計/頻率計/數(shù)字頻率計 型號：DP-2003
、 概述
尊敬的用戶，感謝您選用本儀器。在使用前請您通讀并弄懂本儀器的細節(jié)，以便正確操作，從而取得的效果。
本儀器是個0.001Hz—2.4G的頻率計，能有：頻率測量、累計計數(shù)、周期及晶體測量，作狀態(tài)記憶等能，可直測數(shù)字手機的射頻頻率（內(nèi)市場尚未出現(xiàn)）、手機GSM制射頻幀周期，區(qū)別手機制式（GSM或CDMA），以及晶體固有頻率的測量，能由個單片計算機來成，故儀器體積小巧、簡潔緊湊，能多，性能可靠，且價格低廉，實是修理行業(yè)以及電子廠調(diào)試*的儀器。
二、標
（）頻率測量
A、量程：
1檔 30 MHz — 2400 MHz
2檔 1 MHz — 30 MHz（具有衰減，“A"抬起，x 1；“B" 按下，x 20）
3檔 10 Hz — 1 MHz（具有衰減，“A"抬起，x 1；“B"按下，x 20）
8檔 0.001 Hz — 100 Hz（輸入幅度：2.5V—5V，TTL電平）
B、閘門時間：0.1秒、1秒、5秒、10秒共分4檔
C、輸入靈敏度：35 mV — 30 V
D、輸入阻抗：30 MHz — 2.4 GHz為50 Ω、其余為1 MΩ
E、時基：12 MHz，穩(wěn)定度為2 x 10-6/秒
F、度：基準時間誤差 x 頻率 + 1個計數(shù)值
G、分辯率：1個計數(shù)值（滿量程8位數(shù)顯示時）
（二）周期測量
6檔（下降沿有效），由“常態(tài)/放大"開關行選擇。10 Hz—30 MHz輸入端輸入。輸入幅度2.5—5V，TTL電平，zui大不過5V。zui小周期為30us，zui大周期為4294967295us，可顯示周期數(shù)值99999999，分辯率為1us。
（三） 累計計數(shù)：4檔位10 Hz—30MHz 輸入端輸入，其分辯率為1個計數(shù)值。
（四） 晶體測量：5檔位 插口A測30 KHz — 5MHz（晶體鍵彈出），插口B測2 MHz — 24 MHz晶體，實際可測到50MHz（晶體健按下）。
三、 本儀器的特點
A、測量范圍寬、度：可測0.001Hz—2400MHz的正弦波、方波、三角波等信號的頻率。
B、具有多種測量能：
① 可測數(shù)字手機的射頻頻率（815—960MHz、1800—1990MHz）以及對講機、無線機的發(fā)射頻率。
② 可識別手機的制式（GSM或CDMA）。
③ 可測GSM制的射頻周期（周期為4615us）。
④ 可測石英晶體振蕩器的固有頻率（30 KHz — 50MHz）。
⑤ 可測輸入信號的周期。
⑥ 可對輸入信號累計計數(shù)，切斷儀器電源后能保存上次的原有狀態(tài)，及具有記憶能。
四、 儀器的使用
A、頻率的測量：
① 選擇合適的信號輸入端：本儀器面板左邊有三個信號輸入端，zui上為30MHz—2.4GHz信號輸入端，中間為10Hz—30MHz信號輸入端，下面為0.001Hz—100Hz信號輸入端，（2.5V—5V有效）。
② 按動“閘門"按鍵，選好合適的閘門時間，每按動次“閘門"按鍵，閘門時間就變化次，按照0.1秒—1秒—5秒—10秒循環(huán)變化。閘門時間越長，分辨率越，但測試速度也越慢。
③ 按動“檔位"按鍵，測頻率應選擇1、2、3、8各檔位中的個，每檔測量頻率范圍如下：
1檔 30MHz——2400MHz
2檔 1MHz—30MHz（具有衰減，“A"抬起，x 1；“B"
按下，x 20）
3檔 10Hz—1MHz（具有衰減，“A"抬起，x 1；“B"按
下，x 20）
8檔 0.001Hz—100Hz（輸入幅度：2.5V—5V，TTL電平）
④ 按“確定"鍵后，即開始測量并顯示。
由于低頻率時是阻抗，而測試的頻率為低阻抗（如測試50Hz交流電源），此時會產(chǎn)生阻抗嚴重失配，可在低頻的探頭上串接個1MΩ的電阻。
B、周期的測量：
① 可測量周期的范圍：30us—1.19 h，但zui多只能顯示8位數(shù)字。
② 選用中間個輸入端口，測小信號時（35MV—5V）按下“常態(tài)/放大"鍵，“A、B“抬起。測大信號時，“A、B"鍵和“常態(tài)/放大"鍵同時按入。
③ 如TTL電平從zui下面的輸入端輸入，幅度為2.5V—5V有效，“常態(tài)/放大"鍵和“A、B"鍵均抬起。
④ 按動“檔位"鍵，選6檔，按“確定"鍵后即開始測量并顯示，單位為微秒。
C、累計計數(shù)的方法：
① 選用10Hz—30MHz端口作累計計數(shù)輸入端。
② 檔位選4檔，按下“確定"鍵后即開始計數(shù)。
③ 停止計數(shù)需切斷信號源。
D、石英晶體固有振蕩頻率的測量：
① 選好合適的晶體測量口：本儀器面板提供兩個晶體測量口，由面板A、B晶體按鍵來選擇。A口可測30KHz—4MHz晶體，B口可測2MHz—24MHz晶體（實際可測到50MHz以上的晶體，24MHz以上晶體用顯示值乘以3即為實際振蕩頻率）。
② 按動“閘門"鍵，選好合適的閘門時間。
③ 按動“檔位"鍵，選5檔，按“確定"鍵后即開始測量并顯示。
E、手機制式的識別：
① 在30MHz—2.4GHz輸入端口插根長約5公分左右的導線作接收天線。
② 選6檔位，按“確定"鍵，“常態(tài)/放大"鍵抬起。
③ 用手機撥號后如出現(xiàn)4615us或它的整頻倍時，則表明該手機是GSM制式，反之是CDMA制。測量時出現(xiàn)7-8個微秒的誤差屬正常現(xiàn)象。
F、手機發(fā)射頻率的測量：
① 在30MHz—2.4GHz輸入端口插根長約5公分左右的導線作接收天線。
② CDMA制手機和模擬手機選用1檔，GSM手機選用7檔，閘門均選用0.1秒，“常態(tài)/放大"鍵抬起。
③ 按“確定"鍵后，用手機撥號即可測出并顯示手機發(fā)射頻率。
五、 注意事項
①測量頻強輻射信號時，無線方式應遠離信號源，有線方式應串接大電阻，如果信號過30V時，還應按下面板A、B晶體選擇按鍵（20倍衰減器）以免損壞儀器。
②本機在無信號輸入時，可能是非零顯示，這是正?，F(xiàn)象，不影響測試度。
③有時儀器可能出現(xiàn)下列現(xiàn)象：數(shù)碼管顯示出非正常數(shù)字（缺筆畫），數(shù)碼管會停止刷新數(shù)字，這并非儀器出現(xiàn)故障，只要再按下復位鍵，儀器便可恢復正常作。
④本機采用新版CPU，程序已經(jīng)過加密處理。如用戶私自解密成程序損壞，
不屬保修范圍。
⑤測量手機射頻和幀周期時，并不是穩(wěn)定地顯示某數(shù)值，這是手機通信原理所決定的，并非儀器不穩(wěn)定。
⑥8檔位的測量單位是Hz，6檔位的測量單位是微秒。
⑦測對講機發(fā)射頻率應根據(jù)對講機的頻率范圍選擇合適的檔位，且對講機應由遠近靠近頻率計。
⑧測BP機，子母機，對講機的本振頻率應在探頭上串接只5 P左右的小電容后去探測測量點。
⑨測量手機射頻頻率，測周期，測射頻幀周期，計數(shù)和測晶體，共用了個
示燈。
六、 其它
①電源：交流220 V±20 %、50 Hz
②環(huán)境溫度：-5℃- + 40℃(正常作時需預熱10分鐘)
③相對濕度：10%-90% RH
④外形尺寸：202mm （寬）x 75 mm（）x 230 mm（長）
⑤重量：約1Kg
⑥附件：測試電纜線根，電源線根，說明書份。
頻率計/頻率計/頻率計/數(shù)字頻率計 型號：DP2000
本儀器可測量10Hz－2.4G之振蕩頻率，具有七位亮度LED顯示，該機性能穩(wěn)定、測量度、體積小、重量輕、價格低廉，是個既能測頻率又能測周期、計數(shù)和電容測試儀器。
標
、 頻率計：
1、 測量范圍： 10Hz－2.4GHz
2、 量程： （1） 檔 10Hz－10MC
（2） 檔 10Hz－50 MC
（3） 檔 50MC－2400 MC
3、 閘門時間：0.02S、0.2S、2S選
4、 靈敏度：≤20mV
5、 阻抗：1MΩ、50Ω
6、 度：基準時間誤差 x 頻率 ±1計數(shù)值
7、 數(shù)顯：7位
二、周期：
1、 測量范圍：1－9999999S
2、閘門時間：0.01S、0.1S、1S 選
三、計數(shù)：1－9999999
四、電容：測量范圍 10P－5000UF誤差±5％
五、電源電壓：220V ±20％ 50Hz
六、計數(shù)測量：按下“計數(shù)鍵", “G"燈亮，再按“清零鍵"，清零復位，脈沖由低頻輸入口（10Hz-50Mc）輸入，然后開始計數(shù)。
七、電容測量：按下電容鍵，將電容用隨機所附的測試線接入CX插座（電解電容注意性，紅插座接＋）根據(jù)所測電容選擇適當量程10UF或10KVF，該開關處于復位狀態(tài)時，測10p-10UF，按下時測0.01UF－5000UF,測10P－50P電容時要減去分布電容8P，電容容量較大時，所需測量的時間較長。
八、晶體測量：按下10UF電容鍵和閘門鍵，頻率選用10M或50M檔，接口在晶振插口測得晶振值，測量范圍2M-24M。
九、附件：測試電纜線二根（低頻黑色、頻灰色各根）；晶振、電容測試線對；電源線根；說明書份。
注意！電壓、容量的電容放電后測量，否則會損壞本儀器。在測量過程中OF發(fā)光管作時，說明被測量數(shù)值已溢出，請選檔量程.
自動漆膜干燥時間測定儀/ 型號:DPQGZ
說明：為了面詳細了解涂層干燥和固化過程，需要有種可自動測定涂膜干燥過程時間的儀器，這樣可以方便試驗人員準確而效得到個科學數(shù)據(jù)，DPQGZ-24自動漆膜干燥時間測定儀原理為選用單片微機控制度步電機，帶動面觸點的劃桿，在定的載荷下通過恒定速度，劃針勻速在待測漆膜表面做圓周運動，通過劃針在涂膜表面軌跡用干燥時間圖表覆蓋后來判定涂料成膜過程。
主要標：
■ 電源：220V±10%，50HZ
■ 劃桿旋轉(zhuǎn)周速度：24h/r
■ 劃針半徑：0.25/0.5/1.0/1.5mm
多用頻率計/數(shù)字頻率計/數(shù)字頻率儀 型號：DP-3B
*章 概 述
、概述：
DP-3B型數(shù)字頻率計具有：頻率測量、脈沖計數(shù)及晶體、彩電中周校準等能，并有三檔時間閘門、五檔能供選擇和八位LED數(shù)碼顯示，頻率從10Hz—2400MHz的頻率計。能是用個單片微處理器（CPU）來成的，從而整機性能穩(wěn)定，體積小，使用攜帶方便，是種性能、低價位的理想數(shù)字化儀表。
二、條件及說明：
1、測量：
（1）輸入端口
a、30 MHz — 2400 MHz 的頻通道端口
b、10 Hz — 30 MHz的低頻通道端口
c、晶振插孔為晶體測量端口
（2）頻率測量
a、量程：
C 0ㄈh 為“0"檔 測量頻率為30 MHz — 2400 MHz
C 1ㄈh 為“1"檔 測量頻率為30 MHz — 800 MHz
C 2ㄈh 為“2"檔 測量頻率為100 KHz — 30 MHz
C 3ㄈh 為“3"檔 測量頻率為10 Hz — 30 MHz
b、分辯率：
1 Hz, 10 Hz， 100 Hz
c、度：
±1計數(shù)值±基準時間誤差x 頻率
d、閘門時間：
0.1S， 1S， 10S
e、輸入靈敏度：
20 MV
f、輸入阻抗：
50 Ω/ 1 MΩ
j、zui大輸入電壓：
30 V
2、計數(shù)測量：
在“4"檔位（ C4ㄈh）由10 Hz — 30 MHz插口輸入，分辯率為±1輸入計數(shù)值。
3、晶體測量:
在“2"和“3"檔位上從面板晶振輸入插孔插入欲測之晶體，測試晶振范
圍為100KHz — 40 MHz（24MC以上為測量值x3）。
4、中周校準：
①頻率范圍： A單片機、四片機的視頻檢波中周37.8MHz
AFT：37MHz
B 兩片機的視頻檢波中周 38.7MHz
AFT：37.8MHz
②頻率誤差：±0.2MHz
5、電源電壓：AC 220 V ± 10% ； 頻率50 Hz
6、 耗： 3 W
7、溫 度： 使用范圍 -5℃ — +50℃
存放運輸 -40℃ — +60℃
8、濕 度： 10-90 % RH 存放運輸 5-90 % RH
9、預熱時間：10分鐘
10、尺 寸：200 x 60 x 160 (mm)
11、重 量：約0.5 Kg
二章 操作方法
1、頻率的測量：當測量的頻率為10 Hz — 30 MHz時，“晶體、中周"鍵
彈出，將隨機所配的測試線插入下面的插座中，按動“檔位"按鈕到“2"檔或“3"檔，按動“閘門"按鈕，當測試頻率為800 MHz以上時，可選用本機上面的插座，按動“檔位"鍵到“0"檔，當頻率小于800 MHz時，請選用“1"檔，同時選用適當?shù)拈l門時間，頻率越低，選用的閘門時間越長，反之越短。
由于低頻率時是阻抗，而測試的頻率為低阻抗（如測試50Hz交流電源），此時會產(chǎn)生阻抗嚴重失配，可在低頻的探頭上串接個1MΩ的電阻。
2、晶體的測量：將“晶體、中周"鍵按下，“檔位"按鈕到“2"檔或“3"檔，測量100KHz—3MC，面板插孔為1、2孔，3MC—24MC，面板插孔為3、4孔。
3、中周校準：將“晶體、中周"鍵按下，“檔位"按鈕到“0"檔，將中周插入面板插座的下方。兩片機中頻中周頻率范圍大約在38.9MC，單片機和四片機大約在37.8MC，AFT中周單片機大約37MHz，兩片機大約37.8，根據(jù)實踐經(jīng)驗確定）。拆下電視機的圖象中頻中周或AFT中周，將與中周線圈并聯(lián)的瓷管電容拆開，選擇只電容（47P－75P）并接在中周的腳上，再將中周相應的腳，插入面板插座下面的插孔中，此時即顯示頻率值，無感起子緩慢調(diào)節(jié)磁芯，
到相應的數(shù)值。AFT檢波線圈應顯示在37.8MC上。注意有的電視機的中周殼
中不帶諧振電容，而是按裝在線路板上，這種情況應將中周和電容起拔下，并聯(lián)好后再調(diào)校（校后裝入電視機上，有的需要左右微動磁芯少許）。
4、計數(shù)：在10 Hz — 30 MC插口，接入電脈沖，“檔位"選至“4"，即
可計數(shù)。
三章 附 件
1、說明書份
2、測試電纜線根
3、電源線根
鉛筆硬度計/便攜式鉛筆劃痕試驗儀 型號:DPQHQ
鉛筆硬度儀涂膜硬度涂料涂料使用（涂表）行業(yè)便攜式鉛筆劃痕試驗儀
）用途
涂膜硬度是涂料、涂料使用（涂裝）行業(yè)行質(zhì)量認定的測標。鉛筆劃痕法測試涂膜硬度是自八十年代以來被普遍采用測試的方法。我也已在涂料的發(fā)展研究和業(yè)中推廣這種測試方法。本儀器是根據(jù)家標準“涂膜硬度鉛筆測定法"GB/T6739-1996的。儀器即可在實驗室使用，也可用于施現(xiàn)場，并能在意方向上對涂膜硬度行檢定。
二)參數(shù)荷重：1000±1g鉛筆與試樣夾角：45°鉛筆規(guī)格：6H-6B劃痕速度：1mm/S
三)使用方法:
參數(shù)
1.準備般為平滑馬口鐵板120*50*(0.2~0.3)mm或產(chǎn)品另行規(guī)定的底材及尺寸.
2.用鉛筆刀小心把每只鉛筆前端削去木質(zhì)分.露出3毫米柱狀鉛芯(不可使鉛芯松動或削傷鉛芯).
3.儀器放在平整的作臺上,將墊塊放在儀器下.將削好的鉛插入儀器主體孔內(nèi),鉛筆芯菱邊接觸到作臺,旋緊螺釘使孔內(nèi)鉛筆夾緊(反旋螺釘可卸下鉛筆),,反復調(diào)緊固定鉛筆.去掉墊塊將儀器放在被測試板上,用力(此力大小使鉛芯端緣破碎或犁傷涂膜)以每秒1MM的速度向前推,從zui硬的鉛筆開始,每級鉛筆犁五道3MM長的痕跡,直至找出不能犁傷涂膜的鉛筆為止.此鉛筆硬度即代表所測涂膜的鉛筆硬度(具體判定方法根據(jù)GB/T6739-1996標準的規(guī)定行).
四)維護和保養(yǎng):實驗結束后,將儀器擦拭干凈放入儀器盒內(nèi),置于干燥處.
能用途：
本鉛筆硬度計依據(jù)GB/T6739-1996。涂抹表面對作用其上的另硬度較大的物體，所表現(xiàn)的阻力，也就是測定漆膜抵抗變形的能力。以鉛筆標號表示。適用于涂膜硬度測試。
二、參數(shù)：
1．試驗儀：要保證砝碼的重量1000±50g垂直作用于鉛筆芯與試驗臺交點上，使鉛筆與試驗臺保持45度夾角不變。試驗臺可移動，用鉛筆劃出痕跡。
2．組中華牌繪圖鉛筆HB、1H-6H、1B-6B共13支。鉛筆制備：削去木桿露出3mm鉛芯，在砂紙上畫圓圈，將鉛筆尖磨成平面使邊緣銳利。
注:產(chǎn)品詳細介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對應的
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